薄膜放卷平整度检测是一项关键任务，传统的人工成本高且测量精度有限。

将激光位移传感器安装在薄膜的正上方，通过持续输出距离数据至上位机，再对比薄膜通过时的距离数据，从而实现对片料平整度的准确检测。例如，FSD22-30N-UI型号具有10um的重复精度，能够满足对薄膜平整度的高要求。